兆歐表通過用一個電壓激勵被測裝置或網(wǎng)絡(luò)，然后測量激勵所產(chǎn)生的電流，利用歐姆定律測量出電阻。優(yōu)良的兆歐表校準(zhǔn)器包括各種可選的電阻器，這點與現(xiàn)代校準(zhǔn)器利用合成電阻功能提供的電阻器差別不大。兆歐表校準(zhǔn)器與直流/低頻校準(zhǔn)器的不同之處在于所需的電阻器范圍，以及耐受的電壓能力不同。

 

　　例如，與數(shù)字多用表（DMM）上配備的歐姆表功能相比，這些電氣測試器在進行電阻測量時施加的電壓要高得多。兆歐表采用的電壓范圍通常從50V到高達5kV；而典型數(shù)字多用表的電壓一般小于10V。對于絕緣測試來說，需要測量的電阻值范圍很大，其上限可達到10TΩ，所需的電壓更高。

 

　　幾乎所有的絕緣測試儀都采用直流電壓作為激勵，所以兆歐表校準(zhǔn)器的交流要求很少。許多兆歐表為兩端設(shè)備，它提供一個電壓，并測量由被測設(shè)備所決定的電流。

 

　　10000V絕緣電阻測試儀常見問題有以下幾點：

 

　　1、在測容性負載阻值時，輸出短路電流巨細與丈量數(shù)據(jù)有什么關(guān)系，為什么？

 

　　輸出短路電流的巨細可反映出該兆歐表內(nèi)部輸出高壓源內(nèi)阻的巨細。

 

　　很多絕緣測驗的目標(biāo)歸于容性負載，比如較長的電纜、較多繞組的電機、變壓器等。因而當(dāng)被測目標(biāo)存在電容量時，在測驗進程的開端階段，10000V絕緣電阻測試儀內(nèi)的高壓源要通過其內(nèi)阻向該電容充電，并逐漸將電壓充到輸出額外高壓值。如果被測目標(biāo)的電容量值很大，或高壓源內(nèi)阻很大，這一充電進程的耗時就會加長。

 

　　其長度可由R內(nèi)和C負載的乘積決定(單位為秒)，即T=R內(nèi)*C負載。

 

　　因而測驗時，需求對這樣的容性負載充電至測驗電壓，而充電的速度dV/dt，等于充電電流I與負載電容C的比值。即dV/dt=I/C。

 

　　所以內(nèi)阻越小，充電電流越大，測驗成果就越快安穩(wěn)。

 

　　2、外表“G”端有什么作用？在高壓高阻的測驗環(huán)境中，為什么要求外表接"G"端連線？

 

　　外表“G”端為屏蔽端子，屏蔽端子的作用是掃除測驗環(huán)境潮濕和臟污對丈量成果的影響。外表"G"端是將被測驗品外表走漏的電流旁路，使走漏電流不通過外表的測驗回路，消除走漏電流引起的差錯測驗高阻值的時分需求用到G端。

 

　　一般來說，高于10G能夠考慮用G端。但這個阻值范圍不是肯定的，清潔干燥并且待測物體積較小時，不必G端丈量500G也能夠安穩(wěn)；而潮濕和臟污環(huán)境下，更低一些的阻值也需求G端。具體來說，丈量較高阻值時如果發(fā)現(xiàn)成果難以安穩(wěn)，即可考慮運用G端。別的要注意屏蔽端子G并非連接在屏蔽層上，而是接在L和E之間的絕緣體上或者多股導(dǎo)線中，非被測的其它導(dǎo)線上。

 

　　3、為什么測絕緣時，不但要求測單純的阻值，并且還要求測吸收比，極化指數(shù)，有什么意義？

 

　　PI為極化指數(shù)，是指絕緣測驗時10分鐘的絕緣阻值和1分鐘絕緣阻值的比照；

 

　　DAR為介質(zhì)吸收比，是指絕緣測驗時1分鐘的絕緣阻值和15s絕緣阻值的比照；

 

　　在絕緣測驗中，某一個時刻的絕緣電阻值是不能全面反映試品絕緣功能的好壞的，這是由于以下兩方面原因，一方面，同樣功能的絕緣材料，體積大時出現(xiàn)的絕緣電阻小，體積小時出現(xiàn)的絕緣電阻大。另一方面，絕緣材料在加上高壓后均存在對電荷的吸收比進程和極化進程。所以，電力系統(tǒng)要求在主變壓器、電纜、電機等許多場合的絕緣測驗中應(yīng)丈量吸收比-即R60s和R15s的比值，和極化指數(shù)-即R10min和R1min比值，并以此數(shù)據(jù)來斷定絕緣情況的好壞。

 

　　4、為什么電子式10000V絕緣電阻測試儀幾節(jié)電池供電能產(chǎn)生較高的直流高壓？這是根據(jù)直流改換原理，通過升壓電路處理使較低的供電電壓提升到較高的輸出直流電壓，產(chǎn)生的高壓盡管較高但輸出功率較小（低能量小電流）。

 

　　注：即使很小的功率，也不主張人身接觸測驗表筆，仍會有刺痛感。